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用正电子湮没寿命谱学法研究DKDP单晶缺陷形成机理

引用本文：	史子康,官月英.用正电子湮没寿命谱学法研究DKDP单晶缺陷形成机理[J].人工晶体学报,1992,21(1):77-83.

作者姓名：	史子康官月英

摘要：
关键词：	DKDP晶体正电子湮没缺陷非线性
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