| Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展 |
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| 引用本文： | 束开俊,高利,林晓,高鸿钧.Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展[J].物理,2003,32(9):613-617. |
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| 作者姓名： | 束开俊 高利 林晓 高鸿钧 |
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| 作者单位： | 1. 安徽中医学院物理系,合肥,230038;中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080
2. 中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 (批准号 :60 12 5 10 3 90 2 0 10 3 6，90 10 10 2 5 )资助项目 |
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| 摘 要： | 文章介绍了Z衬度扫描透射电子显微术(Z-scanning transmission electron microscopy，Z-STEM，Z为原子序数)的最新进展：Z-STEM可以直接“观察”到晶体中原子的真实位置，Z衬度图像的分辨率在经过球差校正后可达0．6A；在利用Z衬度成像技术对材料的阴极荧光(cathodoluminescence，CL)性质的研究中，首次观察到了“死层”(dead layer)的存在．然后，文章以半导体与结晶氧化物界面结构、Al72Ni20Co8十角形准晶结构以及SrTiO3晶界结构为例，具体介绍了Z衬度成像在测定物质结构与化学组成方面独特的优势。
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| 关 键 词： | 扫描透射电子显微术 z衬度成像 原子分辨 成分分析 相干成像 微细结构测量 |
| 修稿时间： | 2003年3月18日 |
Z-contrast scanning transmission electron microscopy in materials science |
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| SHU Kai\|Jun , GAO Li LIN Xiao GAO Hong\|Jun.Z-contrast scanning transmission electron microscopy in materials science[J].Physics,2003,32(9):613-617. |
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| Authors: | SHU Kai\|Jun GAO Li LIN Xiao GAO Hong\|Jun |
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| Institution: | SHU Kai\|Jun 1,2 GAO Li 2 LIN Xiao 2 GAO Hong\|Jun 2, |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Z\|STEM atomic structure composition analysis |
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