| 泄漏辐射模显微镜测量薄膜的局域双折射率 |
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| 引用本文： | 阎杰,鲁拥华,王沛,明海.泄漏辐射模显微镜测量薄膜的局域双折射率[J].光学学报,2011(1):101-105. |
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| 作者姓名： | 阎杰 鲁拥华 王沛 明海 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学光学与光学工程系安徽省光电子科学与技术重点实验室; |
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| 基金项目： | 国家973计划(2006cb302905); 国家自然科学基金(60736037,10704070); “中央高校基本科研业务费专项资金”资助课题 |
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| 摘 要： | 介质双折射率的传统测量方法有偏振光椭圆率测量仪和光学相干断层扫描等.提出一种新型的介质双折射率测量方法--切向偏振光照明的泄漏辐射模显微镜激励波导模共振,通过对物镜后焦面的傅里叶光谱信息进行成像,测量介质的双折射率.分析了利用切向偏振光照明的泄漏辐射模显微镜测量介质双折射率的原理并测量了双折射率差为△n≈0.005的偶...
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| 关 键 词： | 测量 双折射 切向偏振光 波导模共振 |
Local Birefringence of Anisotropic Film Measured by Leaky Radiation-Mode Microscope |
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| Yan Jie Lu Yonghua Wang Pei Ming Hai.Local Birefringence of Anisotropic Film Measured by Leaky Radiation-Mode Microscope[J].Acta Optica Sinica,2011(1):101-105. |
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| Authors: | Yan Jie Lu Yonghua Wang Pei Ming Hai |
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| Institution: | Yan Jie Lu Yonghua Wang Pei Ming Hai(Anhui Key Laboratory Optoelectronic Science and Technology,Department of Optics and Optical Engineering,University of Science and Technology of China,Hefei,Anhui 230026,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | measurement birefringence azimuthally polarized beam waveguide-mode resonance |
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