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| 用恒定光电导分析非晶硅薄膜的次带吸收 | |
| 引用本文： | 韩大星, 赵世富. 用恒定光电导分析非晶硅薄膜的次带吸收[J]. 物理, 1985, 14(11). |
| 作者姓名： | 韩大星 赵世富 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所 |
| 摘 要： | 表１列出测量薄膜样品吸收系数的几种方法．对于１μｍ左右的非晶硅，当吸收系数ａ＜１０－２ｃｍ－１时，透射法因受到测量精度的限制不再适用．由于非晶硅是良好的光电导体，用光电导分析法延长其低吸收区．是一种简便方法．一、用恒定光电导法测低吸收区吸收系数的原理当光电导体吸收了一定能量的光子后，产生非平衡的电子－空穴对，这种光生载流子提供给回路的电流就是光电流．所以，当吸收的光子数与光电流成正比时，就可?... |
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