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ZnSe及ZnSe/GaAs异质结构中压力导致的直接禁带向间接禁带的转变
引用本文:郭子政,梁希侠,班士良.ZnSe及ZnSe/GaAs异质结构中压力导致的直接禁带向间接禁带的转变[J].发光学报,2002,23(5):456-460.
作者姓名:郭子政  梁希侠  班士良
作者单位:1. 内蒙古大学理工学院物理系,内蒙古,呼和浩特,010021;内蒙古师范大学物理系,内蒙古,呼和浩特,010022
2. 内蒙古大学理工学院物理系,内蒙古,呼和浩特,010021
基金项目:国家自然科学基金资助项目 (60 1660 0 2 )
摘    要:用经验赝势方法计算了体ZnSe以及ZnSe/GaAs单异质结系统中ZnSe外延层г、X、L等特殊对称点导带底能量随压力的变化。结果表明,同Si、Ge、GaAs等半导体材料不同,ZnSe的X点导带底具有正的压力系数,但比г点的压力系数小,这是ZnSe材料以及ZnSe基异质结构材料发生直接禁带向间接禁带的转变时所需转变压力较大的根本原因。研究了ZnSe/GaAs异质结构中晶格失配造成的应变对外延层г、X、L对称点压力系数的影响,表明这种晶格失配造成的应变可以极大地减小ZnSe外延层材料由直接禁带向间接禁带的转变压力。

关 键 词:ZnSe  ZnSe/GaAs  静压  异质结构  直接禁带-间接禁带转变  压力系数  半导体材料  硒化锌  砷化镓  光致发光
文章编号:1000-7032(2002)05-0456-05
修稿时间:2002年1月28日

Direct Gap-Indirect Gap Transformation of ZnSe and ZnSe/GaAs Heterojunction Structures under Hydrostatic Pressure
GUO Zi zheng ,LIANG Xi xia ,BAN Shi liang.Direct Gap-Indirect Gap Transformation of ZnSe and ZnSe/GaAs Heterojunction Structures under Hydrostatic Pressure[J].Chinese Journal of Luminescence,2002,23(5):456-460.
Authors:GUO Zi zheng    LIANG Xi xia  BAN Shi liang
Institution:GUO Zi zheng 1,2,LIANG Xi xia 1,BAN Shi liang 1
Abstract:
Keywords:hydrostatic pressure  heterojunction  direct gap  indirect gap transformation  pressure    coefficient
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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