时序电路的单故障压缩

本文主要分析了时序电路中的自屏蔽(Self-Hiding)和时延再会聚(Delay-Reconver-gence)现象,以及由此而造成在时序电路中通常的故障支配关系不成立原因。另外还分析了时序电路中特有的优先扇出支(Prime-fanout)现象及其对故障压缩的影响,在此基础上成功地实现了对时序电路的单故障压缩。在文末给出了对标准BENCHMARK时序电路进行实验的结果。另外本算法还作为时序电路ATPG系统的预处理故障压缩部分,应用在我室国家八五项目FD-Ⅲ测试生成系统中。