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快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制
引用本文:王延,李阳,马德才,林少鹏,王彪. 快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制[J]. 应用声学, 2016, 24(3): 285-288
作者姓名:王延  李阳  马德才  林少鹏  王彪
作者单位:中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学
基金项目:国家自然科学基金项目(面上项目,重点项目,重大项目)
摘    要:大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视。以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪。在-10oC~80oC之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2oC。通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线。该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究。在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值。

关 键 词:半导体致冷器  单片机  温度特性曲线
收稿时间:2015-09-09
修稿时间:2016-03-01

Development of a Fast and High-precision Measuring Instrument of Temperature Characteristics for Electronic Components
Wang Yanjun,Li Yang,Ma Decai,Lin Shaopeng and Wang Biao. Development of a Fast and High-precision Measuring Instrument of Temperature Characteristics for Electronic Components[J]. Applied Acoustics(China), 2016, 24(3): 285-288
Authors:Wang Yanjun  Li Yang  Ma Decai  Lin Shaopeng  Wang Biao
Affiliation:Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University
Abstract:
Keywords:Thermoelectric Cooler   Microcontroller   temperature characteristics
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