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MOCVD生长的未掺杂GaN的结晶特性与补偿度关系的研究
引用本文:辛勇,熊传兵,彭学新,王立,姚冬敏,李述体,江风益. MOCVD生长的未掺杂GaN的结晶特性与补偿度关系的研究[J]. 发光学报, 2000, 21(1): 33-37
作者姓名:辛勇  熊传兵  彭学新  王立  姚冬敏  李述体  江风益
作者单位:南昌大学,材料科学研究所,江西,南昌,330047
基金项目:国家高技术“863”材料委员会资助,国家自然科学重大基金资助项目!(批准号 698962 60 )
摘    要:对本实验室用MOCVD方法生长的未故意掺杂的GaN单晶膜进行了结晶性能、电学性能研究。结果表明,室温时GaN的X射线双晶衍射半高宽与其补偿度有较强的依赖关系。高补偿的GaN的X射线双晶衍射半高宽较宽。低补偿的GaN的X射线双晶衍射半高宽较窄。

关 键 词:补偿度 X射线双晶衍射 MOCVD 氮化镓 结晶特性
文章编号:1000-7032(2000)01-0033-05
修稿时间:1999-07-20

Relationship Between Structural Characteristics and Compensation Ratio in Unintentionally Doped GaN Grown by MOCVD
XIN Yong,XIONG Chuan-bing,PENG Xue-xin,WANG Li,YAO Dong-min,LI Shu-ti,JIANG Feng-yi. Relationship Between Structural Characteristics and Compensation Ratio in Unintentionally Doped GaN Grown by MOCVD[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2000, 21(1): 33-37
Authors:XIN Yong  XIONG Chuan-bing  PENG Xue-xin  WANG Li  YAO Dong-min  LI Shu-ti  JIANG Feng-yi
Abstract:
Keywords:GaN  compensation ratio  X ray double crystal diffraction  MOCVD
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