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基于变换矩阵的BGA X-ray图像倾斜识别及校正方法
引用本文:李井元,方黎勇,胡栋材,齐晓世.基于变换矩阵的BGA X-ray图像倾斜识别及校正方法[J].强激光与粒子束,2018(10).
作者姓名:李井元  方黎勇  胡栋材  齐晓世
作者单位:电子科技大学航空航天学院;中国工程物理研究院应用电子学研究所
摘    要:针对基于X-Ray的焊球阵列封装(BGA)焊接缺陷检测中,现有的图像处理算法无法有效处理PCB意外倾斜的问题,提出了一种自动判断BGA焊点X射线图像倾斜程度并进行校正的方法。首先根据BGA焊点阵列排布的特性恢复出原始图像中的结构信息,然后使用广义逆矩阵求解出理想正视图像与实际倾斜图像之间的变换矩阵,最后对倾斜图像进行逆变换以得到理想正视图像,并使用变换矩阵估计出PCB的倾斜程度。实验针对正视与倾斜的BGA焊点的X射线图像,运用所提方法,准确判别出图像的倾斜程度,并进行了校正。此方法既可以作为一种图像质量评价算法,在BGA X-Ray缺陷检测中判断图像是否为需要的正视图像;也可以作为一种图像自动校正算法,提升基于X射线的自动检测系统的适应性。

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