首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试
引用本文:苏德伦,廖守亿,张金生.基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试[J].红外技术,2015(6):479-483.
作者姓名:苏德伦  廖守亿  张金生
作者单位:1. 第二炮兵工程大学,陕西西安 710025; 解放军96111部队,陕西韩城 715400
2. 第二炮兵工程大学,陕西西安,710025
基金项目:某院重点平台建设项目;中国博士后科学基金,编号2012M512。
摘    要:电阻阵列的非均匀性是一种固定模式的空间噪声,是影响红外图像质量的主要因素。测试数据的准确性对非均匀性校正效果是至关重要的,全屏测试时辐射能量的扩散是导致测试误差的重要原因。分析了经典图像复原方法的局限性,提出一种新的基于PSF粗估计的迭代测试方法。分析了不同PSF估计误差对新方法收敛速度和测试精度的影响,评估了不同PSF条件下的测试效果。数值仿真结果表明,新的方法计算量更低,收敛速度更快,且能够适应更宽的平滑因子参数范围。新方法可有效地从退化图像中复原电阻阵列的实际非均匀性图像,取得较好的校正效果。

关 键 词:电阻阵列  非均匀性测试  PSF估计  退化图像复原

Resistor Array Non-uniformity Test Based on PSF Estimation
SU De-lun,LIAO Shou-yi,ZHANG Jin-sheng.Resistor Array Non-uniformity Test Based on PSF Estimation[J].Infrared Technology,2015(6):479-483.
Authors:SU De-lun  LIAO Shou-yi  ZHANG Jin-sheng
Abstract:
Keywords:resistor array  non-uniformity test  PSF estimation  degraded image restoration
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号