| 质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn |
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| 引用本文： | 马慈光,李民,赵国镇,朱沛然,任孟眉.质子激发X射线荧光法测定高纯空气中痕量金属杂质Cr、Cu、Fe、Zn[J].分析测试学报,1992(5). |
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| 作者姓名： | 马慈光 李民 赵国镇 朱沛然 任孟眉 |
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| 作者单位： | 中国科学院生态环境研究中心
(马慈光，李民，赵国镇)，中国科学院物理研究所
(朱沛然)，中国科学院物理研究所(任孟眉) |
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| 摘 要： | 本实验用质子激发X射线荧光法(简称PIXE法)测定了高纯空气中的痕量元素。空气样品用过滤法采集,将过滤装置与空气气路联结,微粒法采集在核孔滤膜上,后端接空气流量计,控制流量在0.5 L/min,采集2～4 h。然后用PIXE测定。此法适于分析微区样品中的痕量金属杂质。Cr、Fe、Cu、Zn的检测下限小于0.1ng/cm~2,标样由美国微物质公司(Micromatter Co.U.S.A.)提供。
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| 关 键 词： | 质子荧光 空气杂质 |
Determination of Trace Elements Cr, Cu, Fe and Zn in High Purity Air by Proton Induced X-Ray Emission Method |
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| Ma Ciguang,Li Min,Zhao Guozhen,Zhu Peiran,Ren Mengmei The Research Center for Eco-Environmenral Scienecs,The Chinese Academy of Sciences,Beijing Institute of Physics,The Chinese Academy of Sciences,Beijing.Determination of Trace Elements Cr, Cu, Fe and Zn in High Purity Air by Proton Induced X-Ray Emission Method[J].Journal of Instrumental Analysis,1992(5). |
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| Authors: | Ma Ciguang Li Min Zhao Guozhen Zhu Peiran Ren Mengmei The Research Center for Eco-Environmenral Scienecs The Chinese Academy of Sciences Beijing Institute of Physics The Chinese Academy of Sciences Beijing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | PIXE method Trace elements in air |
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