| SoC中混合信号的测试 |
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| 引用本文： | 刘全喜,何怡刚,刘美容,彭浴辉.SoC中混合信号的测试[J].现代电子技术,2006,29(3):94-98. |
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| 作者姓名： | 刘全喜 何怡刚 刘美容 彭浴辉 |
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| 作者单位： | 湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 教育部新世纪优秀人才支持计划，湖南省杰出青年基金(03JJY1010)，高校博士点基金(20020532016)，湖南省科技计划项目(03GKY3115、04FJ2003、05GK2005)，湖南大学撷英计划资助 |
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| 摘 要： | 随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。
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| 关 键 词： | SoC 混合信号 扫描测试 内置自测试 |
| 文章编号： | 1004-373X（2006）03-094-05 |
| 收稿时间： | 2005-09-26 |
| 修稿时间： | 2005年9月26日 |
Test of Mixed Signal in SoC |
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| LIU Quanxi,HE Yigang,LIU Meirong,PENG Yuhui.Test of Mixed Signal in SoC[J].Modern Electronic Technique,2006,29(3):94-98. |
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| Authors: | LIU Quanxi HE Yigang LIU Meirong PENG Yuhui |
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| Institution: | College of Electrical and Information Engineering,Hunan University,Changsha,410082,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SoC mixed signal scan test BIST |
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