用国产WP_1-G型高频等离子体——一米光栅摄谱仪直接测定高纯氧化钇中十四个稀土杂质 |
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引用本文: | 江祖成,陈浩,许廉发,廖振环,张书秀.用国产WP_1-G型高频等离子体——一米光栅摄谱仪直接测定高纯氧化钇中十四个稀土杂质[J].分析试验室,1988(1). |
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作者姓名: | 江祖成 陈浩 许廉发 廖振环 张书秀 |
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作者单位: | 武汉大学化学系,武汉大学化学系,武汉大学化学系,武汉大学化学系,江西昌隆稀土冶炼厂 |
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摘 要: | 本文采用正交设计试验法对ICP工作参数进行了最佳选择;对基体钇和共存稀土元素的光谱干扰及基体效应作了详细考察,提出了方便可行的实验校正方法;此外,加入适量的乙醇可以在一定程度上改善方法的检出限。在最佳实验条件下,本法测定稀土元素的检出限在0.0019—0.15μg/mL范围,精密度在2.6—5.3%之间。可以满足99.9—99.99%氧化钇分析的要求,可作为氧化钇生产中质量控制的有效分析方法
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