| BEPCⅡ电子环寄生模损失测量 |
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| 引用本文： | 王洪磊, 王牧源, 杨际森, 等. BEPCⅡ电子环寄生模损失测量[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064 |
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| 作者姓名： | 王洪磊 王牧源 杨际森 沙鹏 林海英 马强 王群要 米正辉 戴建枰 孙毅 王光伟 潘卫民 |
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| 作者单位： | 1.中国科学院大学, 北京 100049;;2.中国科学院 粒子加速物理与技术重点实验室, 北京 100049 |
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| 基金项目： | 国家重点研发计划项目2016YFA0400400 |
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| 摘 要： | BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制，但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一。针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量，主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率。测量结果表明：两种方法对比测量全环寄生模损失，结果重复可信，且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4~5倍。
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| 关 键 词： | 寄生模损失 同步相移 束流功率 高阶模 |
| 收稿时间： | 2019-03-07 |
| 修稿时间： | 2019-04-10 |
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