| 电感耦合等离子体光谱法测定纳米二氧化钛及钛基物料中痕量钒 |
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| 引用本文： | 成勇.电感耦合等离子体光谱法测定纳米二氧化钛及钛基物料中痕量钒[J].理化检验(化学分册),2007,43(2):111-113. |
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| 作者姓名： | 成勇 |
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| 作者单位： | 攀枝花钢铁研究院,攀枝花,617000 |
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| 摘 要： | 对用电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)测定以钛为基体元素的物料(如二氧化钛、金红石等)中痕量钛的最佳分析条件作了研究。结果表明选择波长为310.023 nm的谱线作为分析线可避免大量钛的严重干扰。在应用适宜的同步背景校正条件下,钛及其他常见元素的干扰均能有效消除,而且在制备钒的标准工作曲线时也毋需作基体匹配。试样用HCl-HF-H2SO4混合酸消解,经硫酸冒烟逐除氢氟酸后用HCl(5 95)定容至一定体积。此方法可测定质量分数为2×10-4%~5%钒的试样,不需要任何富集或分离步骤。用不同含钒量(0.01%~0.20%)的试样作精密度试验,所得结果的RSD(n=8)值均小于3%,方法的检出限为0.01 mg.L-1,回收率在99%~106%之间。
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| 关 键 词： | ICP-AES 钒 纳米二氧化钛 金红石 |
| 文章编号： | 1001-4020(2007)02-0111-03 |
| 修稿时间： | 2005年10月22 |
ICP-AES Determination of Trace Amounts of Vanadium in Nano-Titanium Dioxide and Other Titanium-Base Materials |
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| CHENG Yong.ICP-AES Determination of Trace Amounts of Vanadium in Nano-Titanium Dioxide and Other Titanium-Base Materials[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2007,43(2):111-113. |
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| Authors: | CHENG Yong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-AES Vanadium Nanotitanium dioxide Rutile |
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