一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法 |
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引用本文: | 刘文, 刘文汉, 吴自勤. 一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法[J]. 物理, 1989, 18(11). |
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作者姓名: | 刘文 刘文汉 吴自勤 |
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作者单位: | 中国科学技术大学基础物理中心 |
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摘 要: | 本文介绍了利用从薄膜衬底反射的X射线,在常规实验室条件下实现了对薄膜材料的EXAFS测量.我们用该方法在D/max-rB12kW转靶X射线衍射仪上得到的纯Cu薄膜的EXAFS测量结果和常规透射法的测量结果一致.这表明该方法是可靠的.
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