极化电压与铁电场效应晶体管漏极电流的稳定性关系 |
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引用本文: | 王强,曹伟东,章国安,陆健. 极化电压与铁电场效应晶体管漏极电流的稳定性关系[J]. 南通大学学报(自然科学版), 2012, 11(2): 9-13 |
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作者姓名: | 王强 曹伟东 章国安 陆健 |
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作者单位: | 1. 南通大学杏林学院,江苏南通,226007 2. 南通大学电子信息学院,江苏南通,226019 |
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基金项目: | 国家自然科学基金项目,南通市应用研究计划项目,南通大学杏林学院自然科学基金项目,江苏省高等学校大学生实践创新训练计划项目 |
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摘 要: | 设计了具有金属/铁电体/半导体结构的铁电场效应晶体管(FFET),并对其特性进行了仿真.结果表明,当Vg=0时,Pr和Ps/Pr的值决定了漏极电流的大小.当Pr增加时,Id随之增大.当FFET饱和极化后,Ps/Pr值增加,Id增大.FFET可以在特定极化电压(Vp=1.5 V)极化后,实现漏极电流的稳定输出,减小了Ps/Pr变化对FFET器件性能的影响.该漏极电流稳定输出时的极化电压值受到矫顽场Ec的影响,且Vp随Ec的减小而降低.
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关 键 词: | 极化电压 铁电场效应晶体管 漏极电流 仿真 |
Relationship Between the FFET Drain Current Stability Output and Polarization Voltage |
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Abstract: | |
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Keywords: | polarization voltage ferroelectfic field effect transistor drain current simulation |
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