全谱拟合定量分析方法及其影响因素的研究 |
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引用本文: | 甘延玲,金头男,聂光临,崔素萍,郭军. 全谱拟合定量分析方法及其影响因素的研究[J]. 分析科学学报, 2016, 0(1): 89-94. DOI: 10.13526/j.issn.1006-6144.2016.01.018 |
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作者姓名: | 甘延玲 金头男 聂光临 崔素萍 郭军 |
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作者单位: | 北京工业大学材料科学与工程学院,北京,100124 |
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摘 要: | 为研究全谱拟合定量分析方法,将此定量分析方法与内标法、K值法、绝热法进行对比分析,主要讨论了图谱的收集方式、拟合过程中所用的峰形函数,以及温度因子对全谱拟合定量分析结果的影响。结果表明,相对其他定量方法,全谱拟合定量分析只需知物相的结构信息,无需标样,具有较高的准确性。另外,衍射角的收集范围通常与被测试样材料有关,一般扫描范围包括待测试样的主要衍射峰区域即可;步长越小,每步扫描时间越长,衍射强度高,拟合因子越小,计算图谱与实测图谱吻合程度越好;基本参数法通过已知实验仪器的几何参数计算出仪器的仪器峰形,可简化精修过程,减少人为误差;选用结构数据库中的结构信息进行的拟合定量,得到的拟合因子最小,拟合结果最好;拟合过程中修正阳离子的温度因子比修正氧离子的温度因子得到的拟合因子小,拟合定量结果较好一些。
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关 键 词: | 定量分析 全谱拟合法 内标法 K值法 绝热法 拟合因子 |
Study on the Effecting Factors of Quantitative Analysis by Rietveld Method |
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Abstract: | |
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Keywords: | Quantitative analysis Rietveld method Internal standard method K value method Heat insulation method Fitting factor |
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