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低温衬底的射频反应溅射法制备a-SiO_2薄膜的研究
引用本文:张祖新,李伟,张文炳. 低温衬底的射频反应溅射法制备a-SiO_2薄膜的研究[J]. 武汉大学学报(理学版), 1999, 0(5)
作者姓名:张祖新  李伟  张文炳
作者单位:武汉大学物理学系!武汉430072(张祖新,张文炳),山东大学物理学系!济南250100(李伟)
基金项目:国家自然科学基金,教育部重点科学技术项目基金
摘    要:低温衬底使器件在制膜过程中避免热伤害. 研究得到强水冷衬底的射频反应溅射法制备a-SiO2 薄膜的最佳工艺条件. 所制得的薄膜具有好的致密度和抗腐蚀性.

关 键 词:非晶  二氧化硅  薄膜  射频反应溅射

Study of Preparing a-SiO_2 Films Using the Radio|Frequency Reactive Sputtering With the Substrate at Low Temperature
ZHANG Zu|xin ,LI Wei ,ZHANG Wen|bing. Study of Preparing a-SiO_2 Films Using the Radio|Frequency Reactive Sputtering With the Substrate at Low Temperature[J]. JOurnal of Wuhan University:Natural Science Edition, 1999, 0(5)
Authors:ZHANG Zu|xin   LI Wei   ZHANG Wen|bing
Affiliation:ZHANG Zu|xin 1,LI Wei 2,ZHANG Wen|bing 1
Abstract:The optimal preparing technologies were obtained for preparing a|SiO 2 films using the radiofrequency reactive sputtering with the substrate cooled by water.The compaction and anticorrsion are fine for prepared a|SiO 2 films.The advantage of preparing films at low temperature is avoiding heat damage for devices in prepqring process.;
Keywords:amorphous  SiO _2  film  RF reactive sputtering
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