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| 深度黑盒型设备贮存寿命评估方法研究 | |
| 引用本文： | 程德斌,张子华.深度黑盒型设备贮存寿命评估方法研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2009,27(Z1). |
| 作者姓名： | 程德斌 张子华 |
| 作者单位： | 1. 工业和信息化部电子第五研究所,广州市天河区东莞庄路110号,510610 2. 中航工业第607研究所 |
| 摘 要： | 本文提出一种基于深度黑盒型设备内部典型元器件的寿命特征和性能退化规律,评估其贮存寿命的方法.即将黑盒型设备分解成元器件,通过对随设备长期贮存的典型元器件进行寿命特征诊断,针对寿命特征良好的元器件再开展加速退化试验,掌握其关键性能参数的退化规律,评估深度黑盒型设备的贮存寿命. |
| 关 键 词： | 黑盒 设备 贮存 寿命 评估 |
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