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| Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟 | |
| 引用本文： | 向翠丽,费锡明,李俊华,邹勇进.Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟[J].分析试验室,2006,25(2):19-21. |
| 作者姓名： | 向翠丽 费锡明 李俊华 邹勇进 |
| 作者单位： | 华中师范大学化学学院,武汉,430079;华中师范大学化学学院,武汉,430079;华中师范大学化学学院,武汉,430079;华中师范大学化学学院,武汉,430079 |
| 摘 要： | 报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法。研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In(Ⅲ)浓度在1×10-9~1×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10-10mol/L。该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%。 |
| 关 键 词： | Nafion修饰电极 伏安法 铟 |
| 文章编号： | 1000-0720（2006）02-019-03 |
| 收稿时间： | 03 10 2005 12:00AM |
| 修稿时间： | 2005-03-102005-04-25 |
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