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| 动态光散射测量的复惩罚正则化反演 | |
| 作者姓名： | 修文正 申晋 徐敏 朱新军 高明亮 刘伟 王雅静 |
| 作者单位： | 山东理工大学电气与电子工程学院;天津工业大学电气工程与自动化学院; |
| 摘 要： | 多峰颗粒体系粒度及其分布的测量是动态光散射技术的难点,本文在Tikhonov正则化方法的目标函数中加入具有平坦约束功能的惩罚项,增强对解的约束提高对多峰颗粒体系的反演性能.190/443nm、282/953nm、457/553nm双峰分布颗粒体系、564nm单峰分布颗粒体系和292/591/889nm三峰颗粒体系的模拟数据,以及306/974nm、300/502nm双峰颗粒体系的实测数据的反演表明,在正则化反演中增加具有平坦约束功能的惩罚项,可有效消除反演的颗粒粒度分布中出现的毛刺与虚假峰,提高算法的峰值分辨能力和抗噪能力.该研究在发挥多角度动态光散射技术测量中、大超细颗粒时具有信息量多的优势,实现宽范围的双峰及多峰分布颗粒体系的准确测量. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |