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| 高温超导薄膜材料的非破坏组份测定 | |
| 引用本文： | 程建邦,赵玉珍.高温超导薄膜材料的非破坏组份测定[J].低温物理学报,1989,11(5):358-363. |
| 作者姓名： | 程建邦 赵玉珍 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所 北京 (程建邦，赵玉珍，黄锡成)，中国科学院物理研究所 北京(赵柏儒) |
| 摘 要： | 本文叙述二种用于测定沉积在钛酸锶基片上的超导薄膜组份的方法:(1)多标法,用一组纸片标准样品,解一组方程,(2)基本参数法,只需一个纸片标样.二法均简便易行,标准试样容易制作.测定时不必破坏试样.此法不但适用于钇系超导薄膜组份的测定,本法原理亦适用于铋系,铊系等其他体系的超导薄膜组份测定,并能快速地配合科研与生产. |
| 关 键 词： | 超导薄膜 钇 非破坏 组份 测定 铋 |
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