双晶体拉伸变形的原位观察分析

本文用连续柱状晶纯铜加工成双晶体拉伸样品,利用背散射电子衍射技术(EBSD)对其织构进行研究,并用扫描电子显微镜(SEM)对其拉伸变形行为进行了原位观察分析,结果表明:连续柱状晶中主要是[100]丝织构,样品中晶界绝大部分都为小角晶界,滑移都穿过小角晶界,不会在晶界处形成应力集中。在变形中随着多滑移系的产生,裂纹一般在滑移系相交的应力集中处产生。