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美国军用标准可靠性预计手册MIL-HDBK-217C
引用本文:
红涛.美国军用标准可靠性预计手册MIL-HDBK-217C[J].数理统计与管理,1982(1).
作者姓名:
红涛
摘 要:
该书是一本供电子设备可靠性预计用的手册。对电子设备的设计师来说,是一本必备的工具。它在国际上也颇具影响。该手册提供了对电子设备进行可靠性预计的原则、步骤和方法。汇集了美国各类电子元器件(电阻器、电容器、电子管、接插元件、半导体管、半导体集成电路……)的可靠性
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