首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

16×0.8nmSi基SiO2阵列波导光栅设计、制备及测试
作者姓名:李健  安俊明  王红杰  胡雄伟
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:国家重点基础研究发展规划(G2000036602)和国家(69889701)资助项目
摘    要:叙述了一个完整的16通道硅基二氧化硅阵列波导光栅(AWG)的设计、制备及测试过程。通道间隔为0.8nm(100GHz),解复用器的插入损耗为16.8dB,其中材料损耗为11.95dB,相邻通道串扰小于-17dB,通道插损非均匀性小于2.2dB。

关 键 词:光波导  波分复用/解复用器  阵列波导光栅
文章编号:1002-1582(2005)03-0349-02
修稿时间:2004-06-11
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号