| ICP-AES测定工业用氢氧化钠中Fe、Si、Ca和Mg |
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| 引用本文： | 张朝阳,马名扬,毕鸿亮.ICP-AES测定工业用氢氧化钠中Fe、Si、Ca和Mg[J].光谱实验室,2005,22(4):868-870. |
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| 作者姓名： | 张朝阳 马名扬 毕鸿亮 |
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| 作者单位： | 广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心广东省农业环境综合治理重点实验室,广州市天河区天源路808号,510650;广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心广东省农业环境综合治理重点实验室,广州市天河区天源路808号,510650;广东省生态环境与土壤研究所分析测试中心广东省农业环境综合治理重点实验室,广州市天河区天源路808号,510650 |
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| 摘 要： | 电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)同时测定了工业用氢氧化钠中Fe、Si、Ca、Mg,探讨了功率对测定结果的影响,用离峰扣背景法消除背景干扰,用基体校正系数消除基体干扰,加标回收率在97.9%—105%之间。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 氢氧化钠 铁、硅、钙、镁 |
| 文章编号： | 1004-8138(2005)04-0868-03 |
| 收稿时间： | 2005-06-05 |
| 修稿时间： | 2005年6月5日 |
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