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Characterization and optimization of a laser-scanning microscope in the femtosecond regime
Authors:R Wolleschensky  T Feurer  R Sauerbrey  U Simon
Institution:Institut für Optik und Quantenelektronik, Friedrich-Schiller-Universit?t Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743 Jena, Germany (E-mail: feurer@qe.physik.uni-jena.de), DE
Carl Zeiss Jena GmbH, Division of Microscopy, Jena, Germany, DE
Abstract:Received: 26 August 1997/Revised version: 2 February 1998
Keywords:PACS: 42  15  Eq  42  62  Be  42  79  -e
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