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| CMOS电路开路故障的Robust测试生成算法 | |
| 引用本文： | 茅巍巍,凌燮亭.CMOS电路开路故障的Robust测试生成算法[J].电子学报,1987(4). |
| 作者姓名： | 茅巍巍 凌燮亭 |
| 作者单位： | 复旦大学电子工程系 (茅巍巍)，复旦大学电子工程系(凌燮亭) |
| 摘 要： | 本文提出了一种CMOS电路开路故障的测试生成算法,检测开路故障所需的复位输入T_1和测试输入T_2可以一次同时产生,并且能够保证所得的测试是Robust测试。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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