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| e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用 | |
| 作者姓名： | 荣刚 马基茂 毛慧顺 王泰杰 白景芝 李卫国 |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所 北京 100039 |
| 摘 要： | 本文介绍了北京谱仪(BES)主漂移室(MDC)e/π识别的dE/dx方法在τ重轻子质量测量中的应用.该方法的应用使得对τ+τ－衰变产生的“eμ”事例的标记效率,比仅用传统的电磁簇射信息标记时提高了3倍以上.效率的提高不仅减少了事例丢失,还使得为找到同样多的τ+τ－事例所需要的谱仪和对撞机运行时间和数据离线处理所用的计算机CPU时间均减少了～75%. |
| 关 键 词： | 重轻子 τ轻子 质量测量 谱仪 |
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