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MOCVD法以NO气体为掺杂源生长p型ZnO薄膜
引用本文:徐伟中,叶志镇,周婷,赵炳辉,朱丽萍,黄靖云.MOCVD法以NO气体为掺杂源生长p型ZnO薄膜[J].半导体学报,2005,26(1):38-41.
作者姓名:徐伟中  叶志镇  周婷  赵炳辉  朱丽萍  黄靖云
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室 杭州310027 (徐伟中,叶志镇,周婷,赵炳辉,朱丽萍),浙江大学硅材料国家重点实验室 杭州310027(黄靖云)
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);国家自然科学基金
摘    要:采用金属有机化学气相沉积方法在玻璃上生长了掺氮的低电阻p型ZnO薄膜.实验使用NO和N2O共同作为氧源,且NO同时作为掺氮源,二乙基锌作为锌源.X射线衍射测试表明薄膜具有c轴择优取向的结构特性,二次离子质谱分析证实了氮被掺入了ZnO薄膜.通过优化锌源流量获得了最高空穴浓度为1.97×10/up18/cm-3,最低电阻率为3.02Ω·cm的ZnO薄膜.

关 键 词:p型  金属有机化学气相沉积
文章编号:0253-4177(2005)01-0038-04
修稿时间:2003年12月11日

MOCVD Growth of p-Type ZnO Thin Films by Using NO as Dopant Source
Xu Weizhong,Ye Zhizhen,Zhou Ting,Zhao Binghui,Zhu Liping,and Huang Jingyun.MOCVD Growth of p-Type ZnO Thin Films by Using NO as Dopant Source[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(1):38-41.
Authors:Xu Weizhong  Ye Zhizhen  Zhou Ting  Zhao Binghui  Zhu Liping  and Huang Jingyun
Abstract:
Keywords:ZnO
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