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~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析
引用本文:王庆吉,夏萍,戴俊慧,赵克功.~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析[J].应用激光,1986(6).
作者姓名:王庆吉  夏萍  戴俊慧  赵克功
作者单位:北京大学无线电系,北京大学无线电系,北京工业学院,中国计量科学院 研究生
摘    要:本文测量了不同调制幅度时 He-Ne/I_2激光器在~(127)I_2R(47)9-2的 r、q、p、o、n 各条超精细饱和吸收谱线上的训制顿移。实验和分析表明,在大调制时,背景和交叉干扰对频移的影响较大,并且频移方向相同;在小调制时,调制信号的非简谐失真则是频移的主要来源。

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