| 溯源至低温辐射计的硅陷阱探测器紫外波段绝对光谱响应度测量 |
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| 引用本文： | 刘长明,史学舜,陈海东,刘玉龙,赵坤,应承平,陈坤峰,李立功.溯源至低温辐射计的硅陷阱探测器紫外波段绝对光谱响应度测量[J].光子学报,2016(9):93-97. |
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| 作者姓名： | 刘长明 史学舜 陈海东 刘玉龙 赵坤 应承平 陈坤峰 李立功 |
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| 作者单位： | 1. 国防科技工业光电子一级计量站,山东青岛266555;中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛266555;2. 国防科技工业光电子一级计量站,山东青岛266555;电子测试技术重点实验室,山东青岛266555;中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛266555 |
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| 摘 要： | 介绍了溯源至低温辐射计的紫外绝对光谱响应度测量装置,对硅陷阱探测器在三个激光波长点进行了绝对光谱响应度校准实验.测量了硅陷阱探测器的空间均匀性和非线性系数,分析了影响测量准确度的各不确定度分量.实验表明:硅陷阱探测器在紫外波段266、325、379 nm三个激光波长点处的绝对光谱响应度测量扩展不确定度分别为0.19％、0.14％、0.11％,可作为紫外波段光辐射功率基准保持和传递的标准探测器,用于提高紫外波段光谱辐射度的校准能力.
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| 关 键 词： | 紫外波段 硅陷阱探测器 绝对响应度 低温辐射计 空间均匀性 非线性 |
Ultraviolet Spectral Responsivity of Silicon Trap Detectors Traceable to a Cryogenic Radiometer |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Ultraviolet Silicon trap detector Spectral responsivity Cryogenic radiometer Spatial nonuniformity Nonlinearity |
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