| 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱用于高分子端基修饰反应的监控 |
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| 引用本文： | 陈友存,陈文章,刘光祥.基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱用于高分子端基修饰反应的监控[J].分析化学,2003,31(1):127-127. |
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| 作者姓名： | 陈友存 陈文章 刘光祥 |
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| 作者单位： | 1. 安庆师范学院化学系,安庆,246011
2. 中国矿业大学北京校区,北京,100083 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (No .2 0 0 3 5 0 10 ,2 0 1710 0 1) |
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| 摘 要： | 1 引 言基质辅助激光解吸电离飞行时间 (ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ)质谱是近年来发展起来的一种“软电离”质谱分析方法 ,具有样品分子不易碎裂 ,准分子离子峰强的优点 ,在多肽、蛋白质、ＤＮＡ等生物大分子及杯芳烃等重要的有机化合物的分析中得到广泛的应用。但实践证明 ,ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱还是高分子化合物的有效表征和结构鉴定手段。本文将ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱用于监控高分子化合物甲基丙烯酸丁酯末端酯基的水解反应的监控。2 实验部分2 .1 仪器和试剂 ＢｉｆｌｅｘＩＩＩ型ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱仪 (ＢｒｕｋｅｒＤａｌｔｏｎｉ…
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| 关 键 词： | 聚甲基丙烯酸丁酯 水解反应 末端酯基 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 高分子 端基修饰反应 |
The Application of Matrix Assisted Laser Desorption-ionization Time of Flight Mass Sepectrometry in Monitoring the Reaction of End Group Modification of Polymer |
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