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SiN-SiC纳米薄膜自旋相关的塞贝克效应研究
引用本文:李强,杨贝贝,左安友,杨永明.SiN-SiC纳米薄膜自旋相关的塞贝克效应研究[J].人工晶体学报,2018,47(8):1705-1710.
作者姓名:李强  杨贝贝  左安友  杨永明
作者单位:湖北民族学院新材料与机电工程学院,恩施,445000
基金项目:湖北省自然科学基金(2014CFB619,2014CFB342);湖北民族学院博士科研启动基金(MY2012B006);湖北民族学院院内青年科研基金(MY2017Q006)
摘    要:热自旋电子学结合了自旋电子学和热电子学各自优势,对人类可持续发展具有十分重要的作用.本文提出了一种基于SiN-SiC纳米薄膜的新型热自旋电子学器件.发现在源极和漏极之间施加温度场,可以获得方向相反、大小几乎相同的具有自旋极化取向的电流,即为自旋相关塞贝克效应.而且,在热电荷流中还存在着热负微分电阻效应.这些发现为设计基于SiN-SiC纳米薄膜的高效率热自旋电子学器件提供了理论指导.

关 键 词:自旋相关塞贝克效应  SiN-SiC纳米薄膜  热自旋电子学器件  

Spin-dependent Seebeck Effect of the SiN-SiC Nano Thin Film
LI Qiang,YANG Bei-bei,ZUO An-you,YANG Yong-ming.Spin-dependent Seebeck Effect of the SiN-SiC Nano Thin Film[J].Journal of Synthetic Crystals,2018,47(8):1705-1710.
Authors:LI Qiang  YANG Bei-bei  ZUO An-you  YANG Yong-ming
Abstract:
Keywords:
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