| 次磷酸盐氧化反应历程的研究 |
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| 引用本文： | 孙冬柏. 次磷酸盐氧化反应历程的研究[J]. 电化学, 1999, 5(1): 36-42 |
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| 作者姓名： | 孙冬柏 |
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| 作者单位： | [1]UNDP／国家科委－北京腐蚀与防护中心冶金部腐蚀,磨蚀及？UNDP／国家科委－北京腐蚀与防护中心冶金部腐蚀,磨蚀及 [2]U,磨蚀及？UNDP／国家科委－北京腐蚀与防护中心冶金部腐蚀,磨蚀及 |
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| 摘 要： | 对次磷酸盐体系循环伏安曲线－０．４Ｖ（ＳＣＥ）处氧化峰（Ⅱ峰）的特性及本质进行深入研究。结果表明，Ⅱ峰与Ｉ峰直接相关，对应于活性吸附态的偏亚磷酸根氧化生成磷酸根的电极过程，Ⅱ峰是偏亚磷酸根脱出的Ｈａｄｓ＾－离子在电极上发生氧化的结果。确定了吸附态偏亚磷酸根转变为惰性亚磷酸根反应的控速步骤为偏亚磷酸的脱附过程，并估算了脱附速度常数。最后给出可能的吸附态偏磷酸根氧化生成磷酸根的电极历程及总的次磷酸根氧
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| 关 键 词： | 化学镀镍 镀镍 次磷酸盐 氧化 循环伏安法 |
次磷酸盐氧化反应历程的研究 |
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| Sun Dongbai Jin Ying Yu Hongying Yang Dejun. 次磷酸盐氧化反应历程的研究[J]. Electrochemistry, 1999, 5(1): 36-42 |
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| Authors: | Sun Dongbai Jin Ying Yu Hongying Yang Dejun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Hypophosphite Oxidation Cyclic voltammetry References |
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