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| 光电探测器组件辐照后性能退化的噪声表征 | |
| 引用本文： | 张兴,王品红,但伟,曹飞,陈春霞,邹泽亚,李祖安. 光电探测器组件辐照后性能退化的噪声表征[J]. 力学与实践, 2011, 32(4) |
| 作者姓名： | 张兴 王品红 但伟 曹飞 陈春霞 邹泽亚 李祖安 |
| 作者单位： | 1. 重庆邮电大学光电工程学院,重庆,400065 2. 重庆光电技术研究所,重庆,400060 |
| 摘 要： | 本文用爆裂噪声表征总剂量电离辐射（TID）对光电探测器组件的损伤情况。通过对辐照前后的光电探测器组件进行噪声测试,然后对比分析其结果。实验结果表明,总剂量辐照后,相对于辐照前,光电探测器组件内部明显出现了爆裂噪声,即组件内部出现了大量缺陷,导致组件的可靠性降低。 |
| 关 键 词： | 总剂量电离辐射 爆裂噪声 损伤情况 可靠性 |
Noise Characterization on Degradation of Photodetector Module under TID |
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| Abstract: | |
| Keywords: | TID burst noise degradation behavior reliability |
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