| 力调制显微术在台阶边缘附近的边界效应 |
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| 引用本文： | 钱秀槟,陈皓明. 力调制显微术在台阶边缘附近的边界效应[J]. 物理, 2001, 30(12): 787-790 |
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| 作者姓名： | 钱秀槟 陈皓明 |
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| 作者单位： | 清华大学物理系扫描探针显微镜实验室, |
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| 基金项目： | 国防基金(批准号:99JS49.3.1.JW0114)资助项目 |
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| 摘 要： | 力调制显微术被用于观测铜基碳化硅样品，实验中发现在样品表面台阶边缘处出现一些异常信息。为此，文章作者通过测试一种表面同样有台阶但却是由同一种材料组成的样品来通信验证这些异常主要是由台阶的边界引起的，并对引起的异常作了半定量的估算。
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| 关 键 词： | 扫描力显微术 力调制显微术 弹性图 边界效应 台阶边缘 复合材料 SiC 碳化硅 |
| 修稿时间： | 2000-12-25 |
THE BORDER EFFECT NEAR THE BORDER STEP IN FMM |
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| QIAN Xiu-BinCHEN Hao-Ming. THE BORDER EFFECT NEAR THE BORDER STEP IN FMM[J]. Physics, 2001, 30(12): 787-790 |
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| Authors: | QIAN Xiu-BinCHEN Hao-Ming |
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| Abstract: | Force modulation microscopy has been used to investigate a Cu based SiC sample.A border effect has been found,which has been validated by theoretical and experimental analysis. |
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| Keywords: | scanning force microscopy(SFM) froce modulation microscopy(FMM) elasticity border |
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