| ICP－AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质 |
| |
| 引用本文： | 张少夫. ICP－AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质[J]. 分析试验室, 1994, 0(2) |
| |
| 作者姓名： | 张少夫 |
| |
| 作者单位： | 赣州有色冶金研究所 |
| |
| 摘 要： | 本文采用ＪｏｂｉｎＹｖｏｎ３８Ⅱ光谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ、Ｐｒ、Ｓｍ、Ｇａ、Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正文试验Ｌ＿（２５）（５）￣６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。
|
| 关 键 词： | 氧化铕；ICP－AES；Ce、Pr、Sm、Ga和Dy测定 |
ICP-AES Direct Determination of Impurities inEuropium Oxide |
| |
| Zhang Shaofu. ICP-AES Direct Determination of Impurities inEuropium Oxide[J]. Chinese Journal of Analysis Laboratory, 1994, 0(2) |
| |
| Authors: | Zhang Shaofu |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Europium oxide ICP-AE5 Ce Pr Sm Gd and Dy determination |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
