Charakterisierung von Coatings und dünnen Schichten mit Hilfe der FT-IR-Spektroskopie |
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Authors: | W. Herres G. Zachmann |
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Affiliation: | 1. Bruker Analytische Me?technik GmbH, Wikingerstr. 13, D-7500, Karlsruhe 21, Bundesrepublik Deutschland
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Abstract: | |
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