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| Pb和Pb合金薄膜隧道结的表面观察及其损坏机理的探讨 | |
| 引用本文： | 孟小凡,崔广霁,魏国柱.Pb和Pb合金薄膜隧道结的表面观察及其损坏机理的探讨[J].低温物理学报,1983(3). |
| 作者姓名： | 孟小凡 崔广霁 魏国柱 |
| 作者单位： | 北京大学物理系 (孟小凡，崔广霁)，东北工学院物理系(魏国柱) |
| 摘 要： | 对Pb和Pb合金薄膜隧道结的电极薄膜表面进行了观察,并把观察结果同结在低温下的直流I-V特性作了比较,从而进一步肯定了结区电极上的小丘、晶须和微晶粒等显徽结构引起位垒层短路是结热循环损坏的主要原因. |
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