| 用TEM分析溅射法制备Ag超微粒的空间分布 |
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| 引用本文： | 李建,梁一平,任洪湘,刘昌信.用TEM分析溅射法制备Ag超微粒的空间分布[J].分析测试学报,1993,12(6):52-55. |
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| 作者姓名： | 李建 梁一平 任洪湘 刘昌信 |
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| 作者单位： | 西南师范大学物理系
(李建，梁一平，任洪湘)，西南师范大学物理系(刘昌信) |
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| 摘 要： | 用透射电镜对在氩气中电离溅射沉积于碳膜上的Ag超微粒进行了直接研究。通过明场象和电子衍射观察分析发现,在溅射入射角为60°时,经不同的出射角收集,形成的超微粒的粒径、粒径分布、形态和物相结构各有不同。
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| 关 键 词： | 银 透射 电子显微镜 超细粉 |
TEM Studies on the Distribution of the Ultrafine Ag Particles by Sputter Method |
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| Li jian,Ling Yiping,Ren Hongxiang,Liu Changxing Physcis.TEM Studies on the Distribution of the Ultrafine Ag Particles by Sputter Method[J].Journal of Instrumental Analysis,1993,12(6):52-55. |
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| Authors: | Li jian Ling Yiping Ren Hongxiang Liu Changxing Physcis |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Ultrafine particle Silver(Ag) Transmission elecron microscope(TEM) |
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