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| a-Si:H和a-SiN_x:H薄膜中的缺陷以及载流子的非辐射复合 | |
| 作者姓名： | 王志超 滕敏康 张淑仪 葛网大 邱树业 |
| 作者单位： | 南京大学物理系声学研究所(王志超，滕敏康，张淑仪)，南京无线电元件十七厂(葛网大)，汕头大学物理系(邱树业) |
| 摘 要： | 应用红外光谱仪、分光光度计、光声谱仪和正电子湮没寿命谱仪,从不同的角度,研究a-Si:H和a-SiN_x:H薄膜中的成分、缺陷以及光生载流子的非辐射复合。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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