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| 容易产生测试的PLA | |
| 作者姓名： | 闵应骅 |
| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京 100080 |
| 摘 要： | 可编程序逻辑阵列(以下简称PLA)是当今用得很普遍的一种电路结构,它可以实现任意组合开关函数.容易产生测试的PLA(简称ETG PLA)是作者最早提出的一种易测PLA设计.本文根据几年来国际上的评论,进一步阐述ETG电路的概念,并在统一的单故障模型的基础上推广了伪非并发和分离的概念,使硬件开销大大减少.实验结果表明了这些想法的正确性和先进性. |
| 关 键 词： | 可编程序逻辑阵列 可测试性设计 故障检测 测试产生 开关函数 |
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