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X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量
引用本文:应晓浒,林振兴. X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量[J]. 光谱实验室, 2000, 17(1): 78-81
作者姓名:应晓浒  林振兴
作者单位:宁波出入境检验检疫局,浙江省宁波市柳汀街144号,315010
摘    要:本文采用Li2B4O7:LiBO2=12:22作熔剂制备氟石熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定氟石中的CaF2、SiO2、Fe2O3、SO3、P2O5。本法测量 准确度、精密度较好,所得结果与湿法化学分析结果一致。

关 键 词:氟石 X射线光谱法 氟化钙 杂质
文章编号:1004-8138(2000)01-0078-04
修稿时间:1999-09-23

Determination of CaF2 and Impurity in Flouspar by X-Ray Fluorescence
YING Xiao-Hu,LIN Zhen-Xing. Determination of CaF2 and Impurity in Flouspar by X-Ray Fluorescence[J]. Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory, 2000, 17(1): 78-81
Authors:YING Xiao-Hu  LIN Zhen-Xing
Affiliation:YING Xiao-Hu(Ningbo Entry-Exit Inspectio and Quarantine Administration ,No.144 Liuting Street,Ningbo,Zhejiang 315010,P.R.China)LIN Zhen-Xing(Ningbo Entry-Exit Inspectio and Quarantine Administration ,No.144 Liuting Street,Ningbo,Zhejiang 315010,P.R.China)
Abstract:
Keywords:XRF   Flouspar.
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