| 化学成份在钧瓷胎釉反应层中分布模式的线扫描分析 |
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| 引用本文： | 李清临,徐承泰,贺世伟,姚政权. 化学成份在钧瓷胎釉反应层中分布模式的线扫描分析[J]. 化学学报, 2011, 69(8): 912-918 |
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| 作者姓名： | 李清临 徐承泰 贺世伟 姚政权 |
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| 作者单位： | (1武汉大学历史学院 武汉 430072)(2安徽省文物考古研究所 合肥 230061) |
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| 基金项目： | 中央高校基本科研业务费专项资金项目，武汉大学人文社会科学"70后"学者学术团队建设计划资助项目 |
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| 摘 要： | 利用能量色散X射线荧光(EDXRF)探针, 对一批金元时期的钧瓷样品进行了线扫描分析, 以研究钧瓷胎釉间薄层物质的性质及其它相关问题. 结果显示, 胎釉间薄层物质的化学组成介于胎釉之间, 因此其应为在烧制过程中形成的反应层. 分析还发现, 反应层中的K2O含量高于瓷釉和瓷胎, 与其它氧化物均有不同. 推断反应层中K2O含量高的现象, 是瓷釉和反应层中特定的SiO2和Al2O3组成, 硅酸盐玻璃的特定网络结构, 以及SiO2, Al2O3及K2O在玻璃体中的作用和特性等因素的综合作用结果, 而非单纯的K＋具有较强的渗透能力所致.
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| 关 键 词： | 钧瓷 反应层 化学成份 线扫描 EDXRF |
Line Scanning Analysis of Distributing Mode of Chemical Composition in Reaction Layer of Jun Porcelain |
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| Li Qinglin,Xu Chengtai,He Shiwei,Yao Zhengquan. Line Scanning Analysis of Distributing Mode of Chemical Composition in Reaction Layer of Jun Porcelain[J]. Acta Chimica Sinica, 2011, 69(8): 912-918 |
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| Authors: | Li Qinglin Xu Chengtai He Shiwei Yao Zhengquan |
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| Affiliation: | (1 History School of Wuhan University, Wuhan 430072)(2 Anhui Institute of Archaeology and Cultural Relics, Hefei 230061) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EDXRF |
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