| 面内双轴应力作用下单层黑磷能带性质研究 |
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| 作者姓名： | 王洁 许炎 刘贵鹏 田永辉 杨建红 |
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| 作者单位： | 兰州大学物理科学与技术学院微电子研究所,教育部磁性与磁性材料重点实验室,兰州大学物理科学与技术学院微电子研究所,教育部磁性与磁性材料重点实验室,兰州大学物理科学与技术学院微电子研究所,教育部磁性与磁性材料重点实验室,兰州大学物理科学与技术学院微电子研究所,教育部磁性与磁性材料重点实验室,兰州大学物理科学与技术学院微电子研究所,教育部磁性与磁性材料重点实验室 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金,甘肃省自然科学基金,中央高校基础研究经费 |
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| 摘 要： | 通过第一性原理对平面内双轴应力作用下的单层黑磷能带结构进行了计算.双轴拉伸应力作用下单层黑磷始终保持直接带隙性质,双轴压缩应力作用下的单层黑磷则发生了直接带隙转变为间接带隙的现象,当双轴压缩应力增加到7%时单层黑磷带隙闭合.
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| 关 键 词： | 单层黑磷 平面内双轴应力 能带结构 带隙 |
| 收稿时间： | 2019-03-26 |
| 修稿时间： | 2019-04-22 |
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