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基于扫描电子显微镜-X射线能谱的矿物自动分析系统(BPMA)测定高纯石英砂中杂质矿物
引用本文:温利刚,贾木欣,付 强,张云海,王 清,赵建军.基于扫描电子显微镜-X射线能谱的矿物自动分析系统(BPMA)测定高纯石英砂中杂质矿物[J].中国无机分析化学,2023,13(8):845-850.
作者姓名:温利刚  贾木欣  付 强  张云海  王 清  赵建军
作者单位:1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;2. 矿冶过程智能优化制造全国重点实验室,北京 100160;3. 矿冶过程自动控制技术北京市重点实验室,北京 100160,1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;2. 矿冶过程智能优化制造全国重点实验室,北京 100160;3. 矿冶过程自动控制技术北京市重点实验室,北京 100160,1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;2. 矿冶过程智能优化制造全国重点实验室,北京 100160;3. 矿冶过程自动控制技术北京市重点实验室,北京 100160,1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;4. 矿物加工科学与技术国家重点实验室,北京 100160,1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;2. 矿冶过程智能优化制造全国重点实验室,北京 100160;3. 矿冶过程自动控制技术北京市重点实验室,北京 100160,1. 矿冶科技集团有限公司,北京 100160;2. 矿冶过程智能优化制造全国重点实验室,北京 100160;3. 矿冶过程自动控制技术北京市重点实验室,北京 100160
基金项目:国家重点研发计划“战略性矿产资源开发利用”重点专项项目(2021YFC2903101); 矿冶科技集团有限公司科研基金项目(02-2275)
摘    要:杂质矿物作为高纯石英中杂质元素主要载体之一,是高纯石英砂产品中严格限定的成分,也是影响高纯石英提纯方案的关键因素,对其组成、含量及赋存特征进行准确分析测定对高纯石英砂产品质量评价、原料选择合理性判断及提纯方案制定均有重要意义。采用基于扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱(EDS)的工艺矿物学参数自动分析系统(BPMA)测定了SiO2纯度≥99.998 %(4N8)的高纯石英砂中杂质矿物的组成、含量及嵌布特征,建立了高纯石英砂中杂质矿物的分析测定方法。结果表明:样品中石英的重量百分比为99.9988 %,与高纯石英砂产品质量指标对应的SiO2纯度化学分析结果基本一致;杂质矿物主要为辉石和锆石,偶见极其微量的方解石、磷钇矿、独居石和方铅矿;石英粒度均匀,主要分布在0.020~0.208 mm之间;杂质矿物嵌布粒度较细,绝大多数杂质矿物粒度在43 μm以下,主要以微细粒矿物包裹体的形式嵌布在石英颗粒内。方法简捷高效、测量结果准确可靠,适用于高纯石英砂中杂质矿物组成、含量及赋存特征分析测定,也可以为其它高纯物料中微量杂质矿物检测提供技术借鉴。

关 键 词:高纯石英砂  杂质矿物  矿物自动分析系统  BPMA  扫描电子显微镜  X射线能谱
收稿时间:2023/4/11 0:00:00
修稿时间:2023/4/17 0:00:00

Analysis of Impurity Minerals in High-purity Quartz by SEM-EDS-based Automated Process Mineralogy Analyzing System (BPMA)
WEN Ligang,JIA Muxin,FU Qiang,ZHANG Yunhai,WANG Qing and ZHAO Jianjun.Analysis of Impurity Minerals in High-purity Quartz by SEM-EDS-based Automated Process Mineralogy Analyzing System (BPMA)[J].Chinese Journal of Inorganic Analytical Chemistry,2023,13(8):845-850.
Authors:WEN Ligang  JIA Muxin  FU Qiang  ZHANG Yunhai  WANG Qing and ZHAO Jianjun
Institution:BGRIMM Technology Group,BGRIMM Technology Group,BGRIMM Technology Group,BGRIMM Technology Group,BGRIMM Technology Group,BGRIMM Technology Group
Abstract:
Keywords:high-purity quartz  impurity mineral  automated quantitative mineralogy system  BPMA  scanning electron microscope (SEM)  energy dispersive X-ray spectrometer (EDS)
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