钼在400～2500K温度的比热和电阻率

用毫秒－脉冲热量计与接触温度计测量钼的比热和电阻率，温度计采用是Ｗ－Ｒｅ热电耦，可在４００～２５００Ｋ温度范围内进行了研究。在温度高于１３００Ｋ时，并联高温计测量加以修正，利用在这个温度国内所获得的热辐数据得出并讨论了钼的比热，电阻率，半球形总辐射率以及标准光谱辐射率，并将比热与标准参考数据作了比较。