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1OOV高压pMOS器件研制
引用本文:宋李梅,李桦,杜寰,夏洋,韩郑生. 1OOV高压pMOS器件研制[J]. 半导体学报, 2006, 27(z1): 275-278
作者姓名:宋李梅  李桦  杜寰  夏洋  韩郑生
作者单位:中国科学院微电子研究所,北京,100029
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:研制出适用于100V高压集成电路的厚栅氧高压pMOS器件.在器件设计过程中利用TCAD软件对器件结构及性能进行了模拟和优化,开发出与0.8μm n阱标准CMOS工艺兼容的高压工艺流程,并试制成功.实验结果表明,该器件关态击穿电压为-158V,栅压-100V时饱和驱动电流达17mA(W/L=100μm/2μm),可以在100V高压下安全工作.

关 键 词:高压集成电路  LDMOS  厚栅氧  pMOS  器件设计  Devices  High Voltage  安全工作  驱动电流  栅压  击穿电压  关态  结果  实验  工艺流程  工艺兼容  CMOS  标准  开发  优化  模拟  结构及性能  软件
文章编号:0253-4177(2006)S0-0275-04
修稿时间:2005-10-11

Development of High Voltage pMOS Devices
Song Limei,Li Hua,Du Huan,Xia Yang,Han Zhengsheng. Development of High Voltage pMOS Devices[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2006, 27(z1): 275-278
Authors:Song Limei  Li Hua  Du Huan  Xia Yang  Han Zhengsheng
Abstract:
Keywords:
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